半導體高壓加速老化試驗箱產品特點：

1.PCT高壓加速老化試驗箱采用進口微電腦控制飽和蒸氣溫度、微電腦P.I.D自動演算控制飽和蒸氣溫度。

2.采用指針顯示正負壓表；時間控制器采LED顯示器；自動水位控制器,水位不足時提供警示。

3.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可防止試驗中結露滴水設計.。

4.圓幅內襯,不銹鋼圓幅型內襯設計,可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品.。

5.海綿泡沫壓陷硬度測試儀精密設計,氣密性良好,耗水量少,每次加水可連續200h。

6.自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,專利安全門把設計,箱內有大于常壓時測試門會被反壓保護。

7.內壓力愈大時,專利packing,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命。

8.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示。

9.安全閥，當鍋內壓力超過大工作值自動排氣泄壓。

10.一體成型硅膠門墊圈，氣密度良好，且使用壽命長。

紙箱抗壓試驗機半導體高壓加速老化試驗箱技術參數：

內箱：Φ25×D35；Φ30×D45；Φ40×D55；Φ50×D60

溫度范圍：110℃～132℃110℃～147℃

濕度范圍：100%RH飽和蒸氣

壓力范圍：表壓力+0.2～2.0kg/cm2表壓力+0.2～3.5kg/cm2

恒溫恒濕試驗箱控制器：微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器

分辨率/溫度：0.1壓力：指針式0.1

控制穩定度/溫度：±0.5℃，濕度：100%

內箱材質：SUS304#不銹鋼

高低溫實驗箱加壓時間：大約45分鐘大約55分鐘

循環方式：水蒸氣自然對流循環

恒濕試驗箱半導體高壓加速老化試驗箱用途：

　　半導體高壓加速老化試驗箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測，相關之產品作加速壽命試驗，快速溫變試驗箱使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性，氣密性。