GB/T 2423.59-2008電工電子產品環境試驗第2部分∶試驗方法 試驗Z/ABMFh∶溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合

GB-T2423.59-2008試驗 Z-Abmh：溫度（低溫，高溫），低氣壓，振動（隨機）綜合.pdf

1  范圍

GB/T 2423的本部分規定了溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）綜合試驗的基本要求、嚴酷等級、試驗程序以及其他技術細則。

本部分適用于確定產品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（隨機）綜合作用下的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。

4 一般說明

本試驗是試驗A（低溫）、試驗B（高溫）、試驗M（低氣壓）和試驗Fh（振動（隨機））的綜合試驗。

試驗樣品應按照試驗程序依次進行試驗室溫度下的振動（隨機）試驗、溫度試驗和溫度/低氣壓綜合試驗，最后再疊加以振動（隨機）使試驗樣品經受溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）的綜合試驗。當試驗樣品已通過單一的振動（隨機）試驗、溫度試驗及溫度/低氣壓綜合試驗時，可直接進行溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（隨機）的綜合試驗。

在試驗過程中試驗樣品是否處于工作狀態應由有關規范規定。