GB/T 2423.23-2013/IEC 60068-2-17:1994環(huán)境試驗(yàn) 第2部分∶試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Q∶密封

     密封不良將會(huì)造成電工電子產(chǎn)品的漏氣、漏液，從而降低其電性能，有時(shí)還會(huì)造成本身及附近產(chǎn)品的腐蝕現(xiàn)象，甚至使產(chǎn)品破壞、喪失全部功能。由于使用條件不同，因此對(duì)產(chǎn)品的密封要求也不同，為了滿足不同的密封要求，從而制定了不同的密封試驗(yàn)方法。

試驗(yàn)Q按它們所用檢測(cè)方式的不同，分為下列兩組，即∶

a） 內(nèi)部檢測(cè)∶測(cè)量經(jīng)漏泄處進(jìn)入試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)介質(zhì)（液體或氣體）所引起的電性能變化；

b） 外部檢測(cè)∶借助于觀察經(jīng)漏泄處逸出的試驗(yàn)介質(zhì)。

內(nèi)部檢測(cè)的兩個(gè)試驗(yàn)Qf和Ql是非常相似的，它們對(duì)于某些元件非常有效，如塑料薄膜電容器。但對(duì)于這樣一些元器件，它們的電性能變化只有在長(zhǎng)時(shí)間以后（如試驗(yàn)結(jié)束后）才可能變得顯著，則不推薦使用這方法。

外部檢測(cè)試驗(yàn)，根據(jù)它們的應(yīng)用可以進(jìn)一步細(xì)分。Qa是冒泡試驗(yàn)，用于確定襯套、心軸和襯墊的氣密性，其他試驗(yàn) Qc、Qd、Qk、Qy和Qm用于確定容器（金屬外殼、防護(hù)罩等）的漏泄。Qc是冒泡試驗(yàn)，包括具有不同靈敏度的三種方法【漏率不小于1Pa·cm3/s（10-5bar·cm3/s）】。試驗(yàn) Qk和Qm是該系列試驗(yàn)中靈敏度最高的方法，它們的靈敏度范圍從1 Pa·cm2/s（10~5bar·cm3/s）到大約10-°Pa·cm3/s（10-mbar·cm2/s）。試驗(yàn)Qd是液體漏泄試驗(yàn)，它適用于在制造中充有液體或在試驗(yàn)溫度下可變成液體的固體填料的試驗(yàn)樣品。

電工電子產(chǎn)品防御各種方式的水侵或固體侵入，可根據(jù)GB4208-2008中的要求進(jìn)行試驗(yàn)。

在GB4208-2008中，防護(hù)等級(jí)由各種試驗(yàn)來(lái)確定。

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